123,123,123

判斷題

X射線熒光光譜分析中，X射線光強(qiáng)度和管電壓V的平方、管電流I以及靶元素原子序數(shù)Z成正比。

答案：正確

多項選擇題

波長色散X射線熒光光譜儀的流氣正比計數(shù)器經(jīng)長時間使用，其芯線-陽極絲要被污染，造成陽極絲的污染有由氣體中的（）和淬滅氣體甲烷的（）造成的等兩種情況。

A.雜質(zhì)
B.還原性
C.分解
D.碳粒

判斷題

X射線熒光光譜分析中，各元素的同系譜線激發(fā)電位和同系特征光譜的波長，隨原子序數(shù)的大小而變化，與管電壓和管電流的大小也有關(guān)。

答案：錯誤

判斷題

X射線熒光儀晶體的衍射和可見光的光學(xué)反射意義相同。

答案：錯誤

判斷題

X射線熒光光譜內(nèi)標(biāo)法，即把一定量的內(nèi)標(biāo)元素加入到標(biāo)準(zhǔn)試料及分析試料中，以標(biāo)準(zhǔn)試料中分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比與分析元素含量繪制校準(zhǔn)曲線。測定分析試料的分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比，從校準(zhǔn)曲線求得分析元素含量。

答案：正確

多項選擇題

能量色散X射線熒光分析儀從多道分析器得到的譜帶必須經(jīng)過譜處理，其中包括（）等，才能得到準(zhǔn)確的譜峰和強(qiáng)度。

A.譜平滑
B.背景擬合扣除
C.重疊峰的擬合
D.分離

多項選擇題

X射線衍射與光學(xué)反射不同點(diǎn)有（）。

A.光學(xué)反射完全是表面作用
B.X射線衍射則深入到晶體內(nèi)部，其內(nèi)層原子面也參與反射作用
C.光學(xué)反射可選擇任意的入射角
D.X射線的反射則受布拉格定律制約，即必須滿足布拉格定律

判斷題

X射線熒光光譜分析中，連續(xù)光譜激發(fā)樣品時，連續(xù)光譜中的散射線是構(gòu)成背景的主要來源，會影響分析元素的檢測限，尤其對痕量元素。

答案：正確

多項選擇題

能量色散X射線熒光光譜儀是利用X射線熒光具有不同（）的特點(diǎn)，將其分開，依靠（）探測器來檢測。

A.能量
B.波長
C.半導(dǎo)體
D.計數(shù)

多項選擇題

X射線波長極短，不能像紫外和可見光那樣，用（）和（）來分離特征X射線光譜。

A.平面光柵
B.光電倍增管
C.棱鏡
D.中階梯光柵

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X射線熒光光譜分析章節(jié)練習(xí)(2019.05.02)

X射線熒光光譜分析中，X射線光強(qiáng)度和管電壓V的平方、管電流I以及靶元素原子序數(shù)Z成正比。

波長色散X射線熒光光譜儀的流氣正比計數(shù)器經(jīng)長時間使用，其芯線-陽極絲要被污染，造成陽極絲的污染有由氣體中的（）和淬滅氣體甲烷的（）造成的等兩種情況。

X射線熒光光譜分析中，各元素的同系譜線激發(fā)電位和同系特征光譜的波長，隨原子序數(shù)的大小而變化，與管電壓和管電流的大小也有關(guān)。

X射線熒光儀晶體的衍射和可見光的光學(xué)反射意義相同。

能量色散X射線熒光分析儀從多道分析器得到的譜帶必須經(jīng)過譜處理，其中包括（）等，才能得到準(zhǔn)確的譜峰和強(qiáng)度。

X射線衍射與光學(xué)反射不同點(diǎn)有（）。

X射線熒光光譜分析中，連續(xù)光譜激發(fā)樣品時，連續(xù)光譜中的散射線是構(gòu)成背景的主要來源，會影響分析元素的檢測限，尤其對痕量元素。

能量色散X射線熒光光譜儀是利用X射線熒光具有不同（）的特點(diǎn)，將其分開，依靠（）探測器來檢測。

X射線波長極短，不能像紫外和可見光那樣，用（）和（）來分離特征X射線光譜。

X射線熒光光譜分析章節(jié)練習(xí)(2019.05.02)

X射線熒光光譜分析中，X射線光強(qiáng)度和管電壓V的平方、管電流I以及靶元素原子序數(shù)Z成正比。

波長色散X射線熒光光譜儀的流氣正比計數(shù)器經(jīng)長時間使用，其芯線-陽極絲要被污染，造成陽極絲的污染有由氣體中的（）和淬滅氣體甲烷的（）造成的等兩種情況。

X射線熒光光譜分析中，各元素的同系譜線激發(fā)電位和同系特征光譜的波長，隨原子序數(shù)的大小而變化，與管電壓和管電流的大小也有關(guān)。

X射線熒光儀晶體的衍射和可見光的光學(xué)反射意義相同。

能量色散X射線熒光分析儀從多道分析器得到的譜帶必須經(jīng)過譜處理，其中包括（）等，才能得到準(zhǔn)確的譜峰和強(qiáng)度。

X射線衍射與光學(xué)反射不同點(diǎn)有（）。

X射線熒光光譜分析中，連續(xù)光譜激發(fā)樣品時，連續(xù)光譜中的散射線是構(gòu)成背景的主要來源，會影響分析元素的檢測限，尤其對痕量元素。

能量色散X射線熒光光譜儀是利用X射線熒光具有不同（）的特點(diǎn)，將其分開，依靠（）探測器來檢測。

X射線波長極短，不能像紫外和可見光那樣，用（）和（）來分離特征X射線光譜。

X射線熒光光譜分析中，X射線光強(qiáng)度和管電壓V的平方、管電流I以及靶元素原子序數(shù)Z成正比。

波長色散X射線熒光光譜儀的流氣正比計數(shù)器經(jīng)長時間使用，其芯線-陽極絲要被污染，造成陽極絲的污染有由氣體中的（）和淬滅氣體甲烷的（）造成的等兩種情況。

X射線熒光光譜分析中，各元素的同系譜線激發(fā)電位和同系特征光譜的波長，隨原子序數(shù)的大小而變化，與管電壓和管電流的大小也有關(guān)。

能量色散X射線熒光分析儀從多道分析器得到的譜帶必須經(jīng)過譜處理，其中包括（）等，才能得到準(zhǔn)確的譜峰和強(qiáng)度。

X射線衍射與光學(xué)反射不同點(diǎn)有（）。

X射線熒光光譜分析中，連續(xù)光譜激發(fā)樣品時，連續(xù)光譜中的散射線是構(gòu)成背景的主要來源，會影響分析元素的檢測限，尤其對痕量元素。

能量色散X射線熒光光譜儀是利用X射線熒光具有不同（）的特點(diǎn)，將其分開，依靠（）探測器來檢測。

X射線波長極短，不能像紫外和可見光那樣，用（）和（）來分離特征X射線光譜。