123,123

填空題

面心立方晶系的低指數(shù)衍射晶面為（）

答案：（111）、（200）和（220）

單項選擇題

面心立方點陣的消光條件是晶面指數(shù)（）。

A.全奇
B.全偶
C.奇偶混雜
D.以上都是

單項選擇題

定性物相分析旳主要依據(jù)是（）

A.衍射峰位
B.積分強(qiáng)度
C.衍射峰寬
D.以上都是

判斷題

X射線強(qiáng)度總是與管電流成正比。

答案：正確

單項選擇題

基于X射線衍射強(qiáng)度的測量項目是（）。

A.定量物相分析
B.晶塊尺寸
C.內(nèi)應(yīng)力
D.以上都是

單項選擇題

每種元素的特征X射線，包含一系列波長確定的譜線，且其強(qiáng)度比也是確定的，當(dāng)Kα線強(qiáng)度為5kcps時，Kβ線的強(qiáng)度約為（）。

A.2kcps
B.1kcps
C.5kcps
D.4kcps

問答題

簡述影響衍射譜線寬度旳樣品因素

答案：樣品中旳晶塊細(xì)化、顯微畸變、位錯及層錯等晶體不完整因素，必然影響到X射線旳空間干涉強(qiáng)度及其分布，在稍偏離布拉格方向上會出...

填空題

棒材存在絲織構(gòu)，板材存在（）織構(gòu)，薄膜存在絲織構(gòu)。

答案：板

單項選擇題

原子的K層電子被逐出后，其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可以產(chǎn)生一系列的譜線，稱為（）譜線。

A.L系
B.M系
C.K系
D.N系

判斷題

X射線熒光光譜分析康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法不能校正基體的吸收效應(yīng)，只能校正增強(qiáng)效應(yīng)。

答案：錯誤

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X射線熒光光譜分析章節(jié)練習(xí)(2020.02.24)

面心立方晶系的低指數(shù)衍射晶面為（）

面心立方點陣的消光條件是晶面指數(shù)（）。

定性物相分析旳主要依據(jù)是（）

X射線強(qiáng)度總是與管電流成正比。

基于X射線衍射強(qiáng)度的測量項目是（）。

每種元素的特征X射線，包含一系列波長確定的譜線，且其強(qiáng)度比也是確定的，當(dāng)Kα線強(qiáng)度為5kcps時，Kβ線的強(qiáng)度約為（）。

簡述影響衍射譜線寬度旳樣品因素

棒材存在絲織構(gòu)，板材存在（）織構(gòu)，薄膜存在絲織構(gòu)。

原子的K層電子被逐出后，其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可以產(chǎn)生一系列的譜線，稱為（）譜線。

X射線熒光光譜分析康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法不能校正基體的吸收效應(yīng)，只能校正增強(qiáng)效應(yīng)。

X射線熒光光譜分析章節(jié)練習(xí)(2020.02.24)

面心立方晶系的低指數(shù)衍射晶面為（）

面心立方點陣的消光條件是晶面指數(shù)（）。

定性物相分析旳主要依據(jù)是（）

X射線強(qiáng)度總是與管電流成正比。

基于X射線衍射強(qiáng)度的測量項目是（）。

每種元素的特征X射線，包含一系列波長確定的譜線，且其強(qiáng)度比也是確定的，當(dāng)Kα線強(qiáng)度為5kcps時，Kβ線的強(qiáng)度約為（）。

簡述影響衍射譜線寬度旳樣品因素

棒材存在絲織構(gòu)，板材存在（）織構(gòu)，薄膜存在絲織構(gòu)。

原子的K層電子被逐出后，其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可以產(chǎn)生一系列的譜線，稱為（）譜線。

X射線熒光光譜分析康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法不能校正基體的吸收效應(yīng)，只能校正增強(qiáng)效應(yīng)。

面心立方點陣的消光條件是晶面指數(shù)（）。

每種元素的特征X射線，包含一系列波長確定的譜線，且其強(qiáng)度比也是確定的，當(dāng)Kα線強(qiáng)度為5kcps時，Kβ線的強(qiáng)度約為（）。

棒材存在絲織構(gòu)，板材存在（）織構(gòu)，薄膜存在絲織構(gòu)。

原子的K層電子被逐出后，其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可以產(chǎn)生一系列的譜線，稱為（）譜線。

X射線熒光光譜分析康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法不能校正基體的吸收效應(yīng)，只能校正增強(qiáng)效應(yīng)。